上海瞬渺光電技術有限公司
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光矢量分析儀
| 波長范圍 | 1265~1335nm 或 1525~1610nm |
| 波長分辨率 | 1.6pm |
| 波長精度 | ±1.5pm |
| 波長重復性 | ±0.1pm |
| 光相位誤差 | ±0.05rad |
| 損耗測量動態范圍 | 60dB |
| 損耗測量文波 | ±0.05dB |
| 損耗測量分辨率 | ±0.05dB |
| 插損測量精度 | ±0.1dB |
| 回損測量精度 | ±0.2dB |
| 色散測量精度 | ±10ps/nm |
| 群時延測量范圍 | 6ns |
| 群時延測量精度 | ±0.2ps |
| 群時延損耗范圍 | 45dB |
| PMD測量范圍 | 6ns |
| 1階PMD測量精度 | ±0.03ps（100pm 步長） ±0.15ps（30pm 步長） |
| 2階PMD測量精度 | ±10ps2 |
| PMD損耗范圍 | 40dB |
| PDL測量范圍 | 40dB |
| PDL測量精度 | ±0.05dB |
| 激光器掃描速度 | 70nm/s |
| 全參數測量速度 | 30ms/nm |
| 實時測量刷新速率 | 1Hz |
| 器件測試長度（透射測量） | 150m |
| 器件測試長度（反射測量） | 75m |
| 重量 | 16.24kg |
| 尺寸 | 473 ×420×206mm |
產品簡介：
光矢量分析儀（OVA 5000）是目前業內速度、測量最準確、的一款損耗、色散、偏振測量設備。只需要簡單地將待測器件連接到設備上，通過一次激光掃描，即可完成諸多器件（如耦合器、特種光纖、FBG、AWG、濾波器、放大器等）的IL、RL、PDL、CD、PMD、GD全參數測量。該產品憑借其全參數、快速、高精度測量的優勢，擊敗了所有競爭對手，2002～2005年，連續4年獲得FROST & SULLIVAN大獎。該產品一機多用，大大降低了成本，是無源器件、光模塊產品研制和生產的測量儀器。
產品特性：
■ 單次掃描，即可完成IL、RL、PDL、CD、PMD、GD的全參數測量
■ 3s即可完成器件在 C+L 波段的特性測量
■ 器件長度最長達150m
■ 測量分辨率高
■ 波段范圍：C、C+L、O 波段
■ 測量速度快，能夠實時監測并調整元器件
■ 體積小，綜合性價比高
應用領域：
■ 光無源器件測量
■ 生物醫療
■ 光模塊產品研制和生產
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