詳細摘要: 結合光學顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡,結合顯微物鏡與干涉儀、不需要復雜光調整程序,兼顧體積小、納米分辨率、易學易用等優點,可提供垂直掃描高度達4...
產品型號:AE-100M所在地:更新時間:2024-03-11 在線留言上海米厘特精密儀器有限公司
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